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芯片温度测试变化试验箱

型号:TEB-255PF

浏览量:147

更新时间:2021-03-29

价格:

简要描述:

芯片温度测试变化试验箱
可为用户检验、检测电子电工元器件、零配件
或相关行业的实验部门提供一个模拟环境,为
测试数据的准确性和一致性(可重复)提供*条件。

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芯片温度测试变化试验箱
品牌HT/皓天价格区间2万-5万
产地类别国产应用领域电子,航天,制药,汽车,电气

芯片温度测试变化试验箱

 

升温时间(平均/min)

非线性升温速率(5℃/10℃/15℃/20℃/25℃)线性升温速率(5℃/10℃/15℃/20℃)

降温时间(平均/min)

非线性降温速率(5℃/10℃/15℃/20℃/25℃)线性降温速率(5℃/10℃/15℃/20℃)

 

芯片温度测试变化试验箱

 

1 、 试验箱结构设计先进合理,配套产品和功能元器件具有先进水平,能够适 应长期、稳定、安全、可靠的生产需求。能够满足用户为从事上述用途的加工生产要 求,且使用、操作、维修方便,使用寿命长,造型美观,有良好的用户界面,使用户的操作和监测都更加简单和直观。

2、 设备主要部件选用国际品牌厂家的产品,确保整机的质量和性能。

3 、 设备性能完善、人机对话功能简便易操作。

4、拥有自主知识产权和外观设计以及掌握环境试验箱核心技术

5、控制仪表采用日本*"优易控"UMC1200,可实行远程监控

6、制冷系统采用法国原装泰康压缩机组,并配有凝结水接水盘

7、核心电气元器件均采用施耐德等

8、沿袭国外环境试验设备先进设计理念,水电分离

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